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試験エリア:トリップテスト
概要
LSIGはLSIG保護* トリップ活動を検証するテストです。この検定は、選択した保護の介入曲線間の交差を計算する過程で実行されます。このツールは、ユーザーに割り当てられたすべての役割レベルで無料で使用できます。保護タイルの有効化は、現在の保護体制の状況に依存します。デバイスに保護(L、S、I、G)がない場合、対応する保護はグレーアウトされ、テストのために選択できません。
*長時間過電流保護、短時間短絡保護、瞬時電流保護、接地故障保護
ツール概要
| 部品 | の説明 |
|---|---|
| A | 複数の保護オプションを管理するためのチェックボックス欄 |
| B | 保護試験の選択と結果領域 |
| C | テスト 実行を管理するためのスタート/停止ボタンエリア |
テストセクションの保護タブの詳細:
| 部品 | 説明 |
|---|---|
| A | テスト対象の保護を選択するためのチェックボックス |
| B | 保護識別子 |
| C | その特定の保護、失敗、成功のテスト結果を示すアイコン |
| D | 特定保護のためのテスト結果 |
| E | その特定の保護に関する移動時間に関する情報です。最小は期待される最小時間、実際の移動時間、最大は秒単位の期待最大時間を指します。 |
LSIGテストを実行する手順:
テストが終了すると(各保護の結果はアイコンから確認可能)、ツールはユーザーにレポート作成を促します。ユーザーの同意があれば、報告書は 自動的に生成・開かれます。さらに、生成されたレポートは、ユーザーが接続されたデバイスを持っていなくても「テスト履歴」セクション で閲覧可能です。
生成されたレポートには、各テスト済み保護の結果ページと、各保護の結果を閲覧可能な表で表示する専用ページが含まれています。